产品特性:快速无损 | 是否进口:否 | 产地:江苏 |
加工定制:否 | 类型:镀层测厚仪 | 品牌:天瑞 |
型号:EDX2000A | 测量范围:0.000005~0.05mm | 显示方式:电脑上位机软件 |
电源电压:AC220V | 外形尺寸:485×588×505mm | 测量元素范围:铝(AL)~铀(U) |
检出限:0.005μm | 含量测试范围:0.1%-99.*** | 厚度测试标准偏差:<3% |
含量检测精度:<0.5% | 检测时间:5-40秒 | 探测器:大窗口FAST SDD探测器 |
能量分辨率:140±5ev | X射线装置:微焦斑W靶光管 | 仪器重量:60kg |
EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术,专.门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备,不仅在常规的传统电镀上表现更加优异,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。
采用进口高分辨率的FAST SDD探测器,高达140ev分辨率,针对复杂底材以及多层复杂镀层,优.势巨大。
进口的大功***压单元搭配进口大功率X光管,能很好的保障信号输出与激发的稳定性,同时故障率也极.大的降低。
高精度自动化的X轴,Y轴以及Z轴的三维联动,更精.准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。