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芯片金属膜厚测量仪 Skyray全自动微区镀层测厚仪
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芯片金属膜厚测量仪 Skyray全自动微区镀层测厚仪

产品标签  | 镀层测厚仪 膜厚测试仪 无损测厚仪 X-ray膜厚仪 镀层厚度测量仪器

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芯片金属膜厚测量仪 Skyray全自动微区镀层测厚仪

EDX2000A是天瑞仪器发的一款上照式结构的膜厚测试仪。采用进口高分辨率的Fast-SDD探测器和大功率.高压单元，搭配微聚焦的X光管，***了信号输出的效率与稳定性。

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      广东 深圳 宝安区 松岗街道芙蓉东路9号琦丰达大厦22楼（总部：江苏昆山市中华园西路1888号）
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    产品特性：快速无损是否进口：否产地：江苏
    加工定制：否类型：镀层测厚仪品牌：天瑞
    型号：EDX2000A测量范围：0.000005~0.05mm显示方式：电脑上位机软件
    电源电压：AC220V外形尺寸：485×588×505mm测量元素范围：铝（AL）~铀（U）
    检出限：0.005μm含量测试范围：0.1%-99.***厚度测试标准偏差：＜3%
    含量检测精度：＜0.5%检测时间：5-40秒探测器：大窗口FAST SDD探测器
    能量分辨率：140±5evX射线装置：微焦斑W靶光管仪器重量：60kg

    芯片金属膜厚测量仪 Skyray全自动微区镀层测厚仪详细介绍
















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