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镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX600PLUS
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镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX600PLUS

EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。采用进口的高功***压单元搭配微聚焦的X光管,***的***了信号输出的效率与稳定性。

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    广东 深圳 宝安区 松岗街道芙蓉东路9号琦丰达大厦22楼(总部:江苏昆山市中华园西路1888号)
产品特性:快速无损是否进口:否产地:江苏
加工定制:否类型:镀层测厚仪品牌:天瑞
型号:EDX600PLUS测量范围:0.00005~0.05mm显示方式:电脑上位机软件
电源电压:220V外形尺寸:497×427×468mm测量元素范围:硫(S)~铀(U)
检出限:0.005μm含量测试范围:0.1%-99.9%厚度测试标准偏差:<5%
含量检测精度:<0.5%检测时间:5-40秒探测器:大窗口FAST SDD半导体Be窗探测器
能量分辨率:140±5evX射线装置:微焦斑W靶光管最小测试直径:Φ0.1mm

镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX600PLUS详细介绍














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