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镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX2000A
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镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX2000A

EDX2000A是天瑞仪器股份有限公司专门研发的一款上照式结构的镀层测厚仪。采用进口高分辨率的的FASTSDD探测器和大功***压单元搭配微聚焦的X光管。针对复杂底材以及多层复杂镀层,***的***了信号输出的效率与稳定性。

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    广东 深圳 宝安区 松岗街道芙蓉东路9号琦丰达大厦22楼(总部:江苏昆山市中华园西路1888号)
产品特性:快速无损是否进口:否产地:江苏
加工定制:否类型:镀层测厚仪品牌:天瑞
型号:EDX2000A测量范围:0.00005~0.05mm显示方式:电脑上位机软件
电源电压:220V外形尺寸:485×588×505mm测量元素范围:铝(AL)~铀(U)
检出限:0.005μm含量测试范围:0.1%-99.***厚度测试标准偏差:<3%
含量检测精度:<0.5%检测时间:5-40秒探测器:25mm?Be窗口FAST SDD半导体探测器
能量分辨率:140±5evX射线装置:微焦斑W靶光管仪器重量:60kg

镀层测厚仪 天瑞仪器X荧光膜厚测试仪EDX2000A详细介绍













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