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快速无损精准,X-ray镀层测厚仪***潮流
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快速无损精准,X-ray镀层测厚仪***潮流

发布时间:2023-12-27 09:47:28







X-RAY荧光测厚仪特点:

快速:一般测量一个样品只需要5S~40S,样品可不处理或进行简单处理; 

无损:物理测量,不改变样品性质; 

直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快; 

环保:检测过程中不产生任何废气、废水; 

简易:对仪器操作人员技术要求较低,仪器操作简单,且维护方便;

可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。

膜厚测量神器,天瑞电镀镀层膜厚测试仪EDX2000A
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