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| 产品特性：快速无损 | 是否进口：否 | 产地：江苏 |
| 加工定制：是 | 类型：镀层测厚仪 | 品牌：天瑞 |
| 型号：EDX2000A | 测量范围：0.00005~0.05mm | 电源电压：AC220V |
| 外形尺寸：485×588×505mm | 测量元素范围：铝（AL）~铀（U） | 检出限：0.005μm |
| 含量测试范围：0.1%-99.*** | 厚度测试标准偏差：＜3% | 含量检测精度：＜0.5% |
| 检测时间：5-40秒 | 探测器：FAST SDD探测器 | 能量分辨率：140±5ev |
| X射线装置：微焦斑W靶光管 | 仪器重量：60kg |
EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术，专.门研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优.异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方，通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精.准分析。
采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，能精.准地解析每个元素的信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，优.势巨大。
进口的大功率.高压单元搭配进口大功率X光管，能很好的保障信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也极.大的降低。
高精.度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更精.准快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。
